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简介 UV-A型紫外辐照计采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。 产品特点 1.光谱及角度特性经严格校正 2.数字液晶显示，带背光 3.手动/自动量程切换 4.数字输出接口（USB,冗余供电） 5.低电量提醒 6.自动延时关机 7.有数字保持 8.轻触按键操作，蜂鸣提示 技术参数 项目 | 参数 | 备注 | 波长范围λ1，峰值波长λp | （320～400）nm，λP＝365nm | 二选一 | 波长范围λ2，峰值波长λp | （375～475）nm，λP＝420nm | 辐照度测量范围 | (0.1～199.9×103) μW/cm2 | | 紫外带外区杂光 | 0.02% | | 相对示值误差 | ±8％（相对于NIM标准） | | 角度响应特性 | ±5% （α≤10°） | | 线性误差 | ±1% | | 换档误差 | ±1% | | 短期不稳定性 | ±1%（开机30min后） | | 疲劳特性 | 衰减量<2% | | 零值误差 | 满量程的±1% | | 响应时间 | <1秒 | | 使用环境 | 温度(0~40)℃；湿度＜85％RH | | 尺寸和重量 | 160mm×78mm×43mm；0.2kg | | 电源 | 6F22型9V积层电池（非充电电池） | | 整机功耗 | ＜0.1VA | |
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